銲點缺陷檢測系統
WELD DEFECT DETECTION SYSTEM
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摘要

本發明係有關於一種銲點缺陷檢測系統,係主要於一檢測平台上架設有一檢測站,並於該檢測站上方設有一影像擷取單元,又使該影像擷取單元與一AI銲點缺陷辨識單元相連結,藉此,當一待檢測之印刷電路板成品通過檢測平台之檢測站時,以由影像擷取單元對其進行拍攝,再將拍攝到的影像傳送至AI銲點缺陷辨識單元,以快速精確地進行銲點缺陷檢測,當完成檢測後若為瑕疵品,則由回收單元自動回收,另將檢測結果傳送至一遠端監控單元進行記錄與統計分析,據此,以獲知該印刷電路板成品缺陷銲點發生比例等資訊,而適時進行修正改善及狀況排除者。

書目資料

申請日20210506
公告日20230611
申請號TW110116411
公告號TWI804862B 公開 TW202244489A
證書號I804862
申請人南臺學校財團法人南臺科技大學 臺南市永康區南台街1號 (中華民國);
SOUTHERN TAIWAN UNIVERSITY OF SCIENCE AND TECHNOLOGY NO.1, NANTAI ST., YONGKANG DIST., TAINAN CITY (TW)
發明人張萬榮 (中華民國); CHANG, WAN JUNG (TW);
陳振豪 (中華民國); CHEN, ZHEN HAO (TW);
劉信宏 (中華民國); LIU, HSIN HUNG (TW);
吳衒新 (中華民國); WU, HSUAN HSIN (TW);
黃泓翔 (中華民國); HUANG, HUNG HSIANG (TW);
許智昇 (中華民國); HSU, CHIH SHENG (TW)
代理人陳豐裕
審查委員謝育桓
引用專利TWI695977; CN109596643A; CN111965198A; CN212808098U
公報IPCG01N 21/88(2006.01); G06V 30/194(2022.01)
IPCG01N 21/88(2006.01); G06V 30/194(2022.01)
公報卷期50-17
類別碼B

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